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發(fā)布時(shí)間:2024-10-31作者來(lái)源:薩科微瀏覽:1271
氧化工藝在CMOS集成電路制造中是一個(gè)非常重要的步驟,用于在硅片(Si wafer)表面生長(zhǎng)二氧化硅(SiO2)。生長(zhǎng)SiO2的過(guò)程可以類比為給硅片“穿上一層保護(hù)外衣”,這種外衣可以起到絕緣、防護(hù)和隔離等作用。
1. 準(zhǔn)備基材(硅片)
首先,需要準(zhǔn)備一塊高純度的硅片。這就像在一張空白的畫布上進(jìn)行繪畫,硅片是CMOS電路的基礎(chǔ)。
2. 氧化爐的選擇
氧化爐(oxidation furnace)是用于生長(zhǎng)SiO2的核心設(shè)備。通常情況下,氧化爐的溫度范圍在900℃到1200℃之間。你可以把這個(gè)爐子想象成一個(gè)高溫的“蒸鍋”,溫度高而穩(wěn)定。高溫是讓Si和氧發(fā)生化學(xué)反應(yīng)的必要條件。
3. 生長(zhǎng)介質(zhì)的選擇:O2或H2O
氧化過(guò)程可以通過(guò)兩種方式進(jìn)行:干氧化(Dry Oxidation)和濕氧化(Wet Oxidation)。這兩種方式的區(qū)別在于提供氧的介質(zhì)不同:
干氧化使用O2氣體,類似于讓硅片在純氧環(huán)境中“烘烤”。
濕氧化使用含有水蒸氣的環(huán)境,這可以類比為將硅片“蒸”在含有水分的高溫氣氛中。
這兩種方法都會(huì)使硅片與氧發(fā)生反應(yīng),生成SiO2,但是濕氧化的反應(yīng)速度更快,因?yàn)樗肿犹峁┑难踉痈菀讛U(kuò)散到硅片表面。
4. 化學(xué)反應(yīng)過(guò)程
在氧化爐中,當(dāng)硅片與氧氣(O2)或水蒸氣(H2O)接觸時(shí),硅原子與氧原子發(fā)生以下化學(xué)反應(yīng):
干氧化反應(yīng)方程:Si + O2 → SiO2
濕氧化反應(yīng)方程:Si + 2H2O → SiO2 + 2H2
在這兩個(gè)反應(yīng)中,硅片表面上的硅原子與氧原子結(jié)合生成一層二氧化硅。這層SiO2覆蓋在硅片表面,形成一層非常均勻且致密的氧化層。
5. 生長(zhǎng)厚度的控制
氧化的溫度和時(shí)間直接影響SiO2層的厚度??梢园堰@個(gè)過(guò)程想象成煮雞蛋,溫度越高、時(shí)間越長(zhǎng),蛋白凝固得就越厚。同樣,氧化溫度越高、時(shí)間越長(zhǎng),生成的SiO2厚度就越大。在實(shí)際操作中,需要根據(jù)電路設(shè)計(jì)的需求精確控制這兩個(gè)參數(shù)。
6. 用途與功能
生長(zhǎng)的SiO2層在CMOS工藝中有多種用途,例如:作為柵極氧化層,在晶體管中提供隔離和電容效應(yīng);作為場(chǎng)氧化層,將器件隔離以減少漏電流;作為掩膜層,用于離子注入等工藝中保護(hù)硅片表面。
整個(gè)“生長(zhǎng)SiO2”的過(guò)程,可以總結(jié)為:將硅片放入一個(gè)高溫的“氧化爐”中,通過(guò)干氧化或濕氧化的方式,使硅片表面生成一層均勻的SiO2層。這個(gè)過(guò)程的控制參數(shù)主要是溫度、時(shí)間和氧化氣氛。生長(zhǎng)的SiO2層在CMOS工藝中起到至關(guān)重要的保護(hù)和絕緣作用。
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